GB/T 39145-2020 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

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GB/T 39145-2020 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

标准详情与信息

标准名称:硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

标准号:GB/T 39145-2020

发布日期:2020-10-11

实施日期:2021-09-01

管理部门:国家标准化管理委员会

行业分类:冶金

注:硅片表面的金属元素含量以每平方厘米的原子数计。

起草单位与起草人

起草单位包含:南京国盛电子有限公司、有研半导体材料有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、上海合晶硅材料有限公司、有色金属技术经济研究院、无锡华瑛微电子技术有限公司、龙腾半导体有限公司、厦门科鑫电子有限公司。

起草人包含:骆红 、潘文宾 、赵而敬 、孙燕 、张海英 、徐新华 、温子瑛 、胡金枝 、李素青 、马林宝 、李俊需 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。