标准详情与信息
标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法
标准号：GB/T 42968.3-2025
发布日期：2025-12-02
实施日期：2025-12-02
管理部门：工业和信息化部（电子）
行业分类：电子学
此标准描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC，例如连接到电缆束。本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。
此标准为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子技术标准化研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中山大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、南京容向测试设备有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、国网电力科学研究院有限公司、东南大学、中国合格评定国家认可中心、苏州泰思特电子科技有限公司、青岛市产品质量检验研究院、中国信息通信研究院、北京福测电子仪器有限公司、宇通客车股份有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、广州汽车集团股份有限公司汽车工程研究院、湖南进芯电子科技有限公司、广州市爱浦电子科技有限公司。
起草人包含：付君 、崔强 、雷黎丽 、朱赛 、朱昨庆 、叶畅 、方文啸 、邹广才 、张红丽 、邵伟恒 、黄雪梅 、王文杰 、孙婧 、梁吉明 、邢立文 、李腾飞 、张洁 、杨志超 、周香 、刘佳 、胡小军 、王紫任 、兰德福 、张高杰 、张颖 、付国良 、易峰 、薛涛 。
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