标准详情与信息
标准名称：集成电路测试用微波探针应用规范
标准号：DB51/T 3207-2024
发布日期：2024-12-03
实施日期：2024-12-29
行业分类：制造业
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子科技集团公司第九研究所
起草人包含：刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。