标准详情与信息
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
标准号：GB/T 4937.17-2018
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
管理部门：工业和信息化部（电子）。
行业分类：电子学
b）确定规定的半导体器件参数在接受规定水平的中子注量辐射之后是否在规定的极限值之内 （见第4章）。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子科技集团公司第十三研究所、西北核技术研究所、中国科学院新疆理化技术研究所。
起草人包含：席善斌 、彭浩 、陈伟 、林东生 、杨善潮 、金晓明 、郭旗 、陆妩 、崔波 、陈海蓉 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。