GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法

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GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法

标准详情与信息

标准名称:微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法

标准号:GB/T 34894-2017

发布日期:2017-11-01

实施日期:2018-05-01

管理部门:国家标准化管理委员会

行业分类:电子学

此标准适用于表面反射率不低于4%且使用光学干涉显微镜能够获取表面形貌的微悬臂梁结构。

起草单位与起草人

起草单位包含:中机生产力促进中心、天津大学、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第十三研究所、南京理工大学。

起草人包含:胡晓东 、郭彤 、程红兵 、于振毅 、李海斌 、崔波 、朱悦 、裘安萍 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。