标准详情与信息
标准名称：碳化硅单晶位错密度的测试方法
标准号：GB/T 41765-2022
发布日期：2022-10-12
实施日期：2023-05-01
管理部门：国家标准化管理委员会
行业分类：冶金
此标准适用于晶面偏离{0001}面、偏向{1120}方向0°~8°的碳化硅单晶位错密度的测试。
起草单位与起草人
起草单位包含：北京天科合达半导体股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司。
起草人包含：彭同华 、佘宗静 、娄艳芳 、王大军 、赵宁 、王波 、郭钰 、杨建 、李素青 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。