标准详情与信息
标准名称：半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
标准号：GB/T 42271-2022
发布日期：2022-12-30
实施日期：2023-04-01
管理部门：国家标准化管理委员会
行业分类：冶金
此标准适用于测量电阻率范围为1×105Ω·cm~1×1012Ω·cm的半绝缘碳化硅单晶片。
起草单位与起草人
起草单位包含：北京天科合达半导体股份有限公司、中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、安徽长飞先进半导体有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
起草人包含：彭同华 、佘宗静 、王大军 、张贺 、李素青 、王波 、杨建 、袁松 、刘立娜 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。