GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

标准详情与信息

标准名称：硅片电阻率测定 扩展电阻探针法

标准号：GB/T 6617-2009

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

管理部门：国家标准化管理委员会

行业分类：电气工程

起草单位与起草人

起草单位包含：南京国盛电子有限公司、宁波立立电子股份有限公司。

起草人包含：马林宝 、骆红 、刘培东 、谭卫东 、吕立平 。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。