标准详情与信息
标准名称：电子元器件故障树分析方法与程序
标准号：T/CIE 116-2021
发布日期：2021-11-22
实施日期：2022-02-01
行业分类：C397 电子器件制造
本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题，可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻…
起草单位与起草人
主要起草人：何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
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