GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

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GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  杨氏弹性模量、泊松比测试方法

标准详情与信息

标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

标准号:GB/T 5594.2-1985

发布日期:1985-11-27

实施日期:1986-12-01

管理部门:工业和信息化部(电子)。

行业分类:

起草单位与起草人

起草单位包含:天津大学。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。