标准详情与信息
标准名称：人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准号：T/CESA 1119-2020
发布日期：2020-10-30
实施日期：2020-11-10
行业分类：I6520 集成电路设计
本文件规定了对云侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求，适用于云侧深度学习芯片。
起草单位与起草人
主要起草人：宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、刘音、曹晓琦、袁圆、李强、 许源、赵春昊、刘亦珩、韩银和、李威、全振宇、汪玉、葛广君、恽超、程新超、张震宁、张文蒙、梁枭、罗航、吴庚、刘勇、陆坚、王一鹤、王梦硕、钟明琛
起草单位：中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、上海依图网络科技有限公司、 中国科学院计算技术研究所、清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、上海熠知电子科技有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百度网讯科技有限公司、上海阵量智能科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、第四范式(北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司。
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