标准详情与信息
标准名称：人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法
标准号：T/CESA 1121-2020
发布日期：2020-10-30
实施日期：2020-11-10
行业分类：I6520 集成电路设计
本文件规定了对端侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求,适用于端侧深度学习芯片。
起草单位与起草人
主要起草人：宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、韩银和、李威、全振宇、刘音、 李小娟、汪玉、葛广君、恽超、程新超、刘勇、罗恒、张文蒙、代翔、王和国、陆坚、吴庚、周生雷、 钟明琛
起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、华为技术有限公司、 清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、深圳云天励飞技术有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、 上海阵量智能科技有限公司、北京君正集成电路股份有限公司和北京芯可鉴科技有限公司
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。