标准详情与信息
标准名称：GaN毫米波前端芯片测试方法
标准号：T/CASAS 030-2023
发布日期：2023-06-30
实施日期：2023-07-01
行业分类：C398 电子元件及电子专用材料制造
T/CASAS030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波…
起草单位与起草人
主要起草人：周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏。
起草单位：中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。