标准信息
标准号：IEC 60749-37:2022
标准发布组织：IEC
国际组织机构：TC 47
发布日期：2022-10-12
IEC 60749-37:2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
标准号：IEC 60749-37:2022
标准发布组织：IEC
国际组织机构：TC 47
发布日期：2022-10-12
IEC 60749-37:2022 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
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