SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

标准详情与信息

标准名称：半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法

标准号：SJ/T 11706-2018

发布日期：2018-02-09

实施日期：2018-04-01

管理部门：工业和信息化部

行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业

起草单位与起草人

起草单位包含：中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国科学院电子技术研究所等

起草人：刘芳、尹航、胡海涛 等

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。