标准详情与信息
标准名称：半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法
标准号：GB/T 36474-2018
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
管理部门：工业和信息化部（电子）。
行业分类：电子学
此标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM)功能验证和电参数测试。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子技术标准化研究院、西安紫光国芯半导体有限公司、上海高性能集成电路设计中心、武汉芯动科技有限公司、成都华微电子科技有限公司。
起草人包含：孔宪伟 、殷梦迪 、尹萍 、巨鹏锦 、高专 、刘建明 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。