标准详情与信息
标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
标准号：GB/T 42968.2-2024
发布日期：2024-10-26
实施日期：2024-10-26
管理部门：工业和信息化部（电子）
行业分类：电子学
此标准描述了集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。
此标准适用的频率范围为150kHz～1GHz或为TEM小室和宽带TEM小室的特性决定的频率范围。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院。
起草人包含：付君 、崔强 、黄雪梅 、乔彦彬 、吴建飞 、方文啸 、朱赛 、亓新 、李旸 、梁吉明 、谢玉章 、张红升 、熊伟杰 、张艳艳 、周昕 、郑益民 、王雪 、熊璞 、张金玲 、麦强 、康志能 、陈梅双 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。