GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

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GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

标准详情与信息

标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)

标准号:GB/T 4937.32-2023

发布日期:2023-05-23

实施日期:2023-12-01

管理部门:工业和信息化部(电子)。

行业分类:电子学

本试验使用针焰,模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。

起草单位与起草人

起草单位包含:中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、合肥联诺科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司。

起草人包含:裴选 、张魁 、黄纪业 、席善斌 、彭浩 、魏兵 、林瑜攀 、颜天宝 。

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