标准详情与信息
标准名称：半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
标准号：GB/T 43035-2023
发布日期：2023-09-07
实施日期：2023-09-07
管理部门：工业和信息化部（电子）。
行业分类：电子学
通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院。
起草人包含：王婷婷 、呂红杰 、冯玲玲 、王琪 、李林森 、雷剑 、张亚娟 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。