GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

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GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

标准详情与信息

标准名称:半导体集成电路 霍尔电路测试方法

标准号:GB/T 42838-2023

发布日期:2023-08-06

实施日期:2023-12-01

管理部门:工业和信息化部(电子)。

行业分类:电子学

此标准适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

起草单位与起草人

起草单位包含:中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司。

起草人包含:尹航 、刘芳 、何万海 、唐食明 、张帆 、刘德广 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。