标准详情与信息
标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
标准号：GB/T 43226-2023
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
管理部门：国家标准化管理委员会
行业分类：航空器和航天器工程
此标准适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
起草单位与起草人
起草单位包含：北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院。
起草人包含：赵元富 、陈雷 、王亮 、岳素格 、郑宏超 、李哲 、林建京 、李永峰 、陈淼 、王汉宁 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。