GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法

标准详情与信息

标准名称：碳化硅单晶片直径测试方法

标准号：GB/T 30866-2014

发布日期：2014-07-24

实施日期：2015-02-01

管理部门：国家标准化管理委员会

行业分类：电气工程

起草单位与起草人

起草单位包含：中国电子科技集团公司第四十六研究所、中国电子技术标准化研究院。

起草人包含：丁丽 、周智慧 、蔺娴 、郝建民等 。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。