SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准详情与信息

标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法

标准号：SJ/T 11766-2020

发布日期：2020-12-09

实施日期：2021-04-01

管理部门：工业和信息化部

行业分类：

起草单位与起草人

起草单位包含：工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人：余永涛、胡为、张伟 等

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。