SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

标准详情与信息

标准名称：微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法

标准号：SJ/T 11705-2018

发布日期：2018-02-09

实施日期：2018-04-01

管理部门：工业和信息化部

行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业

起草单位与起草人

起草单位包含：中国电子技术标准化研究院、航天电子科技集团公司第七七二研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所等

起草人：安琪、林建京、张崤君 等

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。