SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

标准详情与信息

标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法

标准号：SJ/T 11399-2009

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

管理部门：工业和信息化部

行业分类：

起草单位与起草人

起草单位包含：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人：鲍超、胡爱华 等

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。