GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准详情与信息

标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准号：GB/T 15651.3-2003

发布日期：2003-11-24

实施日期：2004-08-01

管理部门：工业和信息化部（电子）。

行业分类：电子学

起草单位与起草人

起草单位包含：华禹光谷股份有限公司半导体厂。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。