GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

标准详情与信息

标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定

标准号：GB/T 17473.3-1998

发布日期：1998-08-19

实施日期：1999-03-01

管理部门：中国有色金属工业协会

行业分类：冶金

起草单位与起草人

起草单位包含：昆明贵金属研究所。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。