标准详情与信息
标准名称：晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测
标准号：GB/Z 119-2026
发布日期：2026-01-04
实施日期：
管理部门：工业和信息化部（电子）
行业分类：能源和热传导工程
此标准描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。
此标准适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。
起草单位与起草人
起草单位包含：常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司。
起草人包含：许涛 、庄天奇 、葛华云 、黄婷 、李振国 、裴会川 、郭素琴 、冯春暖 、刘亚锋 、徐敏伟 、陈磊 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。