标准详情与信息
标准名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
标准号：GB/Z 107-2025
发布日期：2025-12-03
实施日期：
管理部门：工业和信息化部（电子）
行业分类：电子学
此标准提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。
此标准适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。
起草单位与起草人
起草单位包含：中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司。
起草人包含：万永康 、何静 、虞勇坚 、季伟伟 、宋国栋 、帅喆 、凌勇 、印琴 、张凯虹 、李锟 、贺致远 、李德建 、李飞 、常婷婷 、苏卡 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。