标准详情与信息
标准名称：智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性
标准号：GB/T 46567.1-2025
发布日期：2025-10-31
实施日期：2025-10-31
管理部门：国家标准委
行业分类：电子学
此标准规定了忆阻器测试装置与环境条件要求，描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法，并规定了测试报告要求。
此标准适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。
起草单位与起草人
起草单位包含：之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移（杭州）信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司、华中科技大学、太原理工大学、宁波时识科技有限公司、中国科学院半导体研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、山西太行实验室有限公司、天翼云科技有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、超聚变数字技术有限公司、北京云之印科技有限公司、浙江省物联网产业协会、中国通信工业协会。
起草人包含：时拓 、王忠新 、刘津畅 、何水兵 、李磊 、刘山佳 、王明 、钟鑫 、施阁 、吴逊 、许晓欣 、闫小兵 、王中强 、李莹 、黄伟 、王义楠 、张丽静 、王斌强 、李祎 、刘琦 、孙文绚 、徐海阳 、杨彪 、张乾 、李清江 、张九六 、张宏巍 、杨明 、黄旭辉 、武晨希 、于双铭 、孔维生 、李鹏飞 、黄唯静 、王小鹏 、黄涛 、刘海连 、罗联上 、陈永祥 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。