GB/T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

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GB/T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

标准详情与信息

标准名称:微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法

标准号:GB/T 43883-2024

发布日期:2024-04-25

实施日期:2024-11-01

管理部门:国家标准委

行业分类:化工技术

此标准描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。

此标准适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下,且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行,其他晶体材料可参照执行。

本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。

起草单位与起草人

起草单位包含:中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、牛津仪器科技(上海)有限公司。

起草人包含:娄艳芝 、柳得橹 、徐宁安 。

*本网站标准资料仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。