标准详情与信息
标准名称：表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
标准号：GB/T 41064-2021
发布日期：2021-12-31
实施日期：2022-07-01
管理部门：国家标准化管理委员会
行业分类：化工技术
起草单位与起草人
起草单位包含：清华大学、中国石油大学（北京）。
起草人包含：姚文清 、段建霞 、杨立平 、王雅君 、李展平 、徐同广 、王岩华 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。