标准详情与信息
标准名称：光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
标准号：GB/T 41805-2022
发布日期：2022-10-12
实施日期：2023-05-01
管理部门：中国兵器工业集团公司。
行业分类：玻璃和陶瓷工业
此标准适用于平板类双面抛光光学元件表面疵病的长度、宽度、挡光面积以及疵病位置检测。
起草单位与起草人
起草单位包含：浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司。
起草人包含：杨甬英 、曹频 、李刚 、杨李茗 、刘旭 、刘世杰 、胡丽丽 、徐晓飞 、李炜娜 、麦启波 、黄木旺 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。