标准详情与信息
标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
标准号：GB/T 36655-2018
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
管理部门：国家标准化管理委员会
行业分类：电子学
此标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照此标准执行。态晶体二氧化硅含量测试范围0.5％以下半定量分析，0.5%～5%定量分析。
起草单位与起草人
起草单位包含：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司。
起草人包含：封丽娟 、李冰 、陈进 、夏永生 、曹家凯 、吕福发 、阮建军 、王松宪 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。