标准详情与信息
标准名称：MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
标准号：GB/T 33922-2017
发布日期：2017-07-12
实施日期：2018-02-01
管理部门：国家标准化管理委员会
行业分类：电子学
此标准适用于闭环和开环MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验。
起草单位与起草人
起草单位包含：北京大学、中机生产力促进中心、北京必创科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中北大学。
起草人包含：张威 、程红兵 、陈得民 、李海斌 、崔波 、石云波 、朱悦 。
*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。