GB/T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定

标准详情与信息

标准名称：表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定

标准号：GB/T 30701-2014

发布日期：2014-03-27

实施日期：2014-12-01

管理部门：国家标准化管理委员会

行业分类：化工技术

起草单位与起草人

起草单位包含：中国计量科学研究院。

起草人包含：王海 、宋小平 、王梅玲 、高思田 、冯流星 。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。