GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

标准详情与信息

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检

标准号：GB/T 4937.3-2012

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

管理部门：工业和信息化部（电子）。

行业分类：电子学

起草单位与起草人

起草单位包含：中国电子科技集团公司第十三研究所。

起草人包含：陈海蓉 、李丽霞 、崔波 。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。