GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

标准详情与信息

标准名称：高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法

标准号：GB/T 24576-2009

发布日期：2009-10-30

实施日期：2010-06-01

管理部门：国家标准化管理委员会

行业分类：电气工程

起草单位与起草人

起草单位包含：信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。

起草人包含：章安辉 、黄庆涛 、何秀坤 。

*本网站标准资料仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。