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    SJ/T 11030-2015 电子器件用金铜及金镍纤料中杂质 铅、锌、磷的ICP-AES测定方法
    录入时间:2024-12-17
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    SJ/T 11536.1-2015 高性能计算机 刀片服务器 第1部分:管理模块技术要求
    录入时间:2024-12-17
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    SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
    录入时间:2024-12-17
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    SJ/T 11563-2015 网络化可信软件生产过程与环境
    录入时间:2024-12-17
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    SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
    录入时间:2024-12-17
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    SJ/T 11011-2015 电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
    录入时间:2024-12-17
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    SJ/T 11542-2015 立体投影机技术要求及测试方法
    录入时间:2024-12-17
  • 行业标准
    SJ/T 11564.4-2015 信息技术服务 运行维护 第4部分:数据中心规范
    录入时间:2024-12-17
  • 行业标准
    SJ/T 11538-2015 热打印头通用规范
    录入时间:2024-12-17
  • 行业标准
    SJ/T 11407.3.1-2015 数字接口内容保护系统技术规范 第3-1部分:DTV-CI内容保护系统技术规范
    录入时间:2024-12-17
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